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EBSD and BKD

Acronyms and Glossary   download this site

 

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ambiguity of a rotation

die Zwei-, Mehr- oder Vieldeutigkeit einer Drehung und somit einer Orientierung

l'ambiguïté d'une rotation

ACOM

Automated Crystal lattice Orientation Microscopy

ACOM, die Automatische Kristall­ Orientierungs-Mikroskopie

la cartographie automatisée de l'orientation des cristaux

ANN

Artificial Neural Network

KNN, das Künstliche Neuronale Netzwerk

réseau neuronal artificiel

 

anomalous absorption

die anomale Absorption

l‘absorption anomale

 

angular coordinates

Winkelkoordinaten

les coordonnées angulaires

 

approximation condition

die Näherungs-Bedingung

la condition d'approximation

 

average value, mean value

der Mittelwert, gemittelter Wert

la valeur moyenne

 

area detector: 2D (image) detector

der Flächendetektor

détecteur de zone : détecteur 2D (image)

BCC

Body-Centered Cubic crystal lattice

krz, kiz, bcc: das raumzentrierte kubische Kristallgitter, das kubisch innenzentrierte Gitter

réseau cristallin cubique centré sur l'espace

 

binning: grouping of neighboring pixels to form "super pixels"

das Binning: die Zusammenfassung von Bildpunkten zu „Super-Pixel“

binning: regroupement de pixels voisins pour former de "super pixels"

BKD

Backscatter Kikuchi Diffraction

BKD: die Rückstreu-Elektronen­Beugung, Kikuchi-Beugung in Rückstreuung

BKD : la diffraction de Kikuchi en électrons rétrodiffusés

BKP

Backscatter Kikuchi diffraction Pattern (see EBSP)

BKP: das Elektronen-Beugungsdiagramm in Rückstreuung

BKP: Diagramme de rétrodiffusion de Kikuchi = EBSP

 

Bloch wave

die Blochwelle

l'onde de Bloch

 

Bragg diffraction

die Braggsche Beugung

la diffraction de Bragg

BF / DF

In Bright Field imaging (BF), the central non-diffracted beam is selected for imaging. In Dark Field imaging (DF) it is a diffracted beam.

HF, die Hellfeldabbildung /

DF Dunkelfeldabbildung

l'imagerie en champ clair / sombre

BSE

BackScattered Electrons

Rückstreu-Elektronen

les électrons rétrodiffusés

CBED

Convergent Beam Electron Diffraction (to produce Kossel-Möllenstedt patterns  and Zone Axis patterns)

die (Weitwinkel-)Beugung im konvergenten Bündel, CBED (Kossel-Möllenstedt und Zonenachsen-Diagramme)

CBED : la diffraction électronique à faisceau convergent

 

conformal (= angle preserving) projection, Lambert projection

die winkeltreue Projektion, Lambert-Projektion

la projection préservant les angles, projection de Lambert

COM

Crystal Orientation Map, Crystal Orientation Map(ping)

die (Kristall-)Orientierungs-Kartographie

la cartographie de l'orientation des cristaux

 

computer

der Computer, Rechner

l‘ordinateur

 

contamination: The impact of electrons causes the formation of an unwanted hydrocarbon layer, which obscures the image and the diffraction pattern.

die Kontamination

la contamination

 

crystal structure

die Kristallstruktur

la structure du cristal, la structure  cristalline,

 λ

the de Broglie wavelength of electrons

die de Broglie Wellenlänge von Elektronen

a longueur d'onde de de Broglie des électrons

 

Debye-Scherrer ring

der Debye(-Scherrer)-Ring

l'anneau de Debye-Scherrer

 

diffraction contrast

der Beugungskontrast

contraste par diffraction

 

dynamical diffraction

die dynamische Beugung

la diffraction dynamique

earing

In the cup stamping test, circular plates are cut from sheet metal and then stamped into cups using a stamping die. Earing due to texture  is analyzed on the edges of the cup.

Beim Becher-Tiefziehversuch werden kreisförmige Platten aus einem Blech gestanzt und dann mithilfe eines Tiefziehwerkzeugs zu Bechern geformt. Die Bildung von Zipfeln an den Becherkanten als Folge der Textur wird analysiert.

Lors de l’essai d’emboutissage en godets, des plaques circulaires sont découpées dans une tôle puis embouties en gobelets à l'aide d'une matrice d'emboutissage. La formation de cornes sur les bords du godet est analysée.

EBSD

Electron Back Scatter Diffraction: commercial term for ACOM with the SEM (not to confound with other backscatter electron diffraction techniques such as RHEED, LEED, ECP)

EBSD, die Elektronen­Rückstreu­Beugung

EBSD

EBSP

Electron Back Scattered Pattern (= BKP)

das Elektronen-Rückstreu­Diagramm

EBSP : Diagramme de rétrodiffusion de Kikuchi = BKP

ECP

Electron Channeling Pattern: Backscatter electron diffraction pattern produced with a pivoting beam

ECP, das Elektronen-Channeling-Diagramm

ECP : Diagramme de canalisation des électrons

EDS, EDX

Energy Dispersive X -ray Spectroscopy

Energiedispersive Röntgenspektroskopie, EDS, EDX

EDS, EDX

 

elastically scattered electrons

elastisch gestreute Elektronen

électrons diffusés élastiquement

 

electron gun

die Elektronenquelle

la source d'électrons

 

Equal area projection

die flächentreue Projektion, flächengleiche Projektion

la projection de surface réelle

1, Φ, φ2)

Euler(ian) angles are used to represent the orientation of a crystal with respect to a Cartesian reference frame

die Euler-Winkel

les angles d'Euler 

Euler Map

COM using the Euler angles for color coding

Euler-Kartographie

Euler Map

 

Ewald sphere 

die Ewaldkugel

la boule d'Ewald

 

Excitation error

der Anregungsfehler

l'erreur d'excitation

FCC

Face-Centered Cubic crystal lattice

kfz, fcc: das kubisch flächenzentrierte Kristallgitter

FCC

 

fluorescent screen: see phosphor screen

 

 

FIB

Field Ion Beam: a source of field-emitted ions, typically gallium or helium, that is used to build a stand-alone scanning ion microscope or as a companion device to a (dual-beam) SEM

FIB, der Feldionen-Strahl, die -Sonde

FIB: La sonde ionique focalisée

FSE

Forward Scattered Electrons

FSE, vorwärtsgestreute Elektronen

FSE,  les électrons diffusés vers l'avant

Friedel’s law

die Friedelsche Regel, das Friedelsche Gesetz

la règle de Friedel, le loi de Friedel

 

Gaussian distribution

die Gaussverteilung

la distribution gaussienne

GB

a Grain Boundary is the interface between two crystals of the same composition and crystal structure, but of different orientation.

KG, die Korngrenze

le joint de grains 

GND

Geometrically Necessary Dislocations

GND, geometrisch notwendige Versetzungen

GND, les dislocations géométriquement nécessaires

HCP

Hexagonal Close-Packed crystal lattice

hdp, hcp: die hexagonal dichteste Kugelpackung

HCP

HT

Hough Transform(ation), an image processing and analysis routine used to locate straight lines in a binary image. HT is a special case of RT.

die Hough-Transformation

la transformation de Hough

 

inelastically scattered electrons

inelastisch (auch: unelastisch) gestreute Elektronen

électrons diffusés inélastiquement

HOLZ

High Order Laue Zone

HOLZ, die Laue-Zone höherer Ordnung

HOLZ, la zone de Laue d'ordre élevé

 

information depth : The depth of the layer below the sample surface from which the information is collected.

die Informationstiefe, IT

la profondeur de l'information

IPF

The inverse pole figure IPF represents the density distribution of crystallographic directions <uvw> parallel to a sample direction in the standard triangle of stereographic projection.

IPF, die inverse Polfigur

IPF,  la figure de pôles inverse 

IQ

Image Quality (see PQ)

IQ, entspricht ungefähr der PQ

IQ, la qualité d'image, comparable à PQ

Indexing Quality: a measure of the angular deviations between detected and recalculated band positions

ein Zuverlässigkeitswert für die Indizierung

une valeur de fiabilité de l'indexation

 

keyboard

Tastatur

le clavier

 

kinematical diffraction

die kinematische Beugung

la diffraction cinématique

 

Kikuchi band

das Kikuchi-Band

la bande de Kikuchi 

 

Kikuchi pattern

das Kikuchi-Diagramm

le diagramme de Kikuchi

L

camera length: distance from the beam spot on the specimen to the pattern center on the phosphor screen

die Beugungslänge L

la distance L de diffraction

 

Laue pattern

das Laue-Diagramm

le diagramme de Laue

 

Lankford parameter, strain ratio

der r-Wert, das Dehnungsverhältnis

le paramètre de Lankford, rapport de déformation

LEED

Low Energy Electron Diffraction: Backscatter electron diffraction with a primary beam of usually less than 5 keV at normal incidence on a bulk crystal

LEED

LEED

 

materialography is the study of the physical structure and components of solids, by using microscopy and methods of sample preparation. Metallography is focused on metals.

die Materialografie

matérialographie

Miller Map

COM using the Miller Indices of two reference directions for color coding

die Miller-Kartographie

la cartographie de Miller

 

microstructure

das Gefüge

microstructure

MBD

Micro Beam electron Diffraction: Electron diffraction in transmission or backscattering mode with a fine-focused beam spot

die Feinstrahl-Elektronenbeugung

la diffraction électronique à faisceau fin

MODF

MisOrientation Distribution Function

die MODF, MOVF: die Missorientierungs-Verteilungsfunktion

MODF

 

nano-beam diffraction

die Feinststrahl-Beugung

la diffraction par nanofaisceaux

 

normalization of data

das Normieren von Daten

la normalisation des données

OCF

Orientation Correlation Function

OCF, die Orientierungs-Korrelations-Funktion

OCF

ODF

Orientation Density Function, Orientation Distribution Function 

(definition:  dV(g)/V = f(g) dg )

die ODF, OVF: die Orientierungs-Dichtefunktion, Orientierungs-Verteilungsfunktion

FDO : la Fonction de Densité d'Orientation f(g)

OIMTM

OIMTM is a registered trademark for an EBSD system

OIMTM

OIMTM

OM

Orientation Mapping, Orientation Microscopy

OM (= ACOM), die Orientierungs-Mikroskopie, Orientierungs-Kartographie

OM (= ACOM)

 

Pendel loesung: In two-beam dynamical diffraction the energy is periodically swinging like a "pendulum" from one beam to the other at path lengths of half the extinction distance. Thus, the intensity of the diffracted wave is not proportional to the scattering amplitude of the reflection, but periodically changes with local specimen thickness.

die Pendellösung

 

 

pixelated detector: digital 2D image detector

der Pixeldetektor: digitaler 2D-Bilddetektor

détecteur pixellisé : détecteur numérique d'images 2D

 

phosphor screen, fluorescent screen emits light under the impact of electrons and thus makes the spatial image of electron density visible.

der Leuchtschirm

l’écran phosphorent, l’écran fluorescent

PF

(direct, standard) Pole Figure : A pole figure hkl is the density of the poles {hkl}, often graphically represented  in stereographic or in Lambert projection.

die (normale) Polfigur, PF

PF,  la figure de pôles (directe)

PF map

PF constructed by marking the individual grain orientations (in color) on the reference sphere or on the Wulff's net, i.e. the standard projection of the reference sphere.

die Polfigur-Kartographie, Richtungs-Kartographie

la cartographie de la figure du pôle, la cartographie directionnelle

PB

A Phase Boundary is the interface between two crystals of different crystal structure

die Phasengrenze

Le Joint de phases 

 

point detector: 1D detector

der Punktdetektor, 1D-Detektor

 

PQ

Pattern Quality: a measure of the crispness of the BKP and an indication of the perfectness of the diffracting crystal volume

PQ, die Patttern Quality

PQ

 

Preferred orientations, ideal orientations

die Vorzugsorientierungen, Ideallagen

les orientations préférées, les positions idéales

RT

Radon Transform(ation): an image processing and analysis routine used to quantify gray-tone features in an image; in EBSD the tool is to locate positions of Kikuchi bands in the BKP

RT, die Radon-Transformation

la transformation de Radon

RHEED

Reflection High Energy Electron Diffraction, a special case of BKD, in particular at steep to grazing beam incidence

die (Hochenergie-)Reflexions-Elektronenbeugung, streifende Elektronenbeugung

RHEED , la diffraction à incidence presque rasante du faisceau primaire

Rodrigues map

COM using the Rodrigues vector as parameters for color coding

die Rodrigues-Kartographie

Rodrigues Map

SAD

Selected Area electron Diffraction: Electron diffraction in the TEM using a selector aperture to limit the sampled area

die Feinbereichs-Elektronenbeugung, SAD

SAD,  La diffraction en faisceau parallèle sur une zone sélectionnée

SE

Secondary Electrons, by definition have an energy < 50 eV

die Sekundärelektronen, SE

les électrons secondaires

 

Skeleton line

die Skelett-Linie

 

SEM

Scanning Electron Microscope / Microscopy

das REM, das Raster-Elektronen-Mikroskop/ die -Mikroskopie

MEB : Microscope électronique à balayage

Σ value

reciprocal value of the fraction of the coincident lattice sites of two superimposed crystal lattices

der Σ Wert

la valeur de Σ

 

stereology is the science that relates three-dimensional structure to two-dimensional cross sections of materials.

die Stereologie

la stéréologie

 

Stereographic projection (an angle preserving projection)

die Stereographische Projektion (winkeltreu)

 

t-EBSD, t-EFSD 

t-EBSD, t-EFSD : a TKD system on thin samples transparent to electrons in the SEM

t-EBSD, t-EFSD 

t-EBSD, t-EFSD 

TEM

Transmission Electron Microscope / Microscopy

das TEM, das Transmissions- / Durchstrahlungs-Elektronen-Mikroskop, die Durchstrahlungs-Mikroskopie

MET : Microscope électronique à transmission

 

(crystallographic) texture: The statistics of the preferential orientations of the grains in a specimen, the random distribution is usually included.

die (kristallographische, Kristall-) Textur

la texture (cristallographique)

TKD / TKP

Transmission Kikuchi Diffraction / Pattern

TKD, TKP, die Transmissions-Kikuchi-Beugung / das Transmissions-Diagramm

TKD / TKP : La diffraction de Kikuchi en transmission

 

A twin(-crystal) or macle is an oriented arrangement of several identical crystals, which are connected by a point group symmetry operation.

der Zwilling

la macle 

 

umweg anregung: Two or more diffractions excite a kinematically forbidden reflection due to a screw axis or a glide plane.

die Umweganregung

umweganregung, l'excitation „umweg“

 

Wehnelt grid

der Wehneltzylinder

le cylindre de Wehnelt, l'électrode de Wehnelt

XRD

X-Ray Diffraction

die Röntgenbeugung, XRD

la diffraction de rayons X

XRSA

X-Ray Residual Stress Analysis

die röntgenographische Eigenspannungs-Analyse

l'analyse des contraintes résiduelles par rayons X

XSA

X-Ray Scanning Apparatus

RRA, die Röntgen-Raster-Apparatur

l'appareil de balayage à rayons X

 

Young fringes: Diffraction fringes in the double slit experiment

die (Youngschen) Beugungsstreifen

les lignes de diffraction de Young

 

Young’s modulus

der Elastizitätsmodul, der E-Modul

le module d'élasticité E, le module de Young

 

zone axis: A crystallographic direction with high atomic occupancy density

die Zonenachse

l’axe de zone